Die Dichte und die Viskositt von n-Heptan wurden gleichzeitig ber den Temperaturbereich von 298 K bis 470 K und bei Drcken bis zu 245 MPa unter Verwendung der hydrostatischen Wge- bzw. Fallkrpertechnik gemessen. Die erweiterte Unsicherheit der Dichte-, Druck-, Temperatur- und Viskosittsmessungen auf dem 95 %-Vertrauensniveau mit einem Abdeckungsfaktor von k = 2 wird auf 0,15 % bis 0,30 %, 0,05 %, 0,02 K bzw. 1,5 % bis 2,0 % (je nach Temperatur- und Druckbereich) geschtzt. Die gemessenen Dichten wurden zur Entwicklung einer Tait-Zustandsgleichung fr flssiges n-Heptan verwendet. Theoretisch basierte Gleichungen vom Arrhenius-Andrade- und Vogel-Tamman-Fulcher-Typ mit druckabhngigen Koeffizienten wurden verwendet, um die Temperatur- und Druckabhngigkeit der gemessenen Viskositten fr flssiges n-Heptan zu beschreiben. Die gemessenen Werte der Dichte und Viskositt wurden im Detail mit den berichteten Daten und mit den aus einem Referenz-EOS und Korrelationsmodellen fr die Viskositt berechneten Werten verglichen.Bei der bersetzung dieses Buches wurde knstliche Intelligenz eingesetzt. |